XRD样品测试厚度-搜答案-拍题作业网

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

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最小厚度最好的能测0.8mm,一般测试的最小厚度1mm,最大厚度300mm.

楼主, X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^

XRD测试基本上每个高校科研院所都可以测试,拥有XPS的单位就相对较少一些,清华、北大等这些一流院校都可以测,由于XPS抽真空时间比较长,效率低一些,一般在高校预约的话需要排一个月左右,如果想要快点的

透射电镜,因为电子要透过样品,透射在荧光屏上

游标卡尺是工业上常用的测量长度的仪器,它由尺身及能在尺身上滑动的游标组成,如图2.3-1所示.若从背面看,游标是一个整体.游标与尺身之间有一弹簧片（图中未能画出）,利用弹簧片的弹力使游标与尺身靠紧.游

入射角度,射线强度等

一般烘干后的粉末样品,几克就够了的.

XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末.对于块状、板状、圆柱状样品,必须将其磨成一个平面,面积不能小于10*10mm.如果面积太小可以用几块粘贴在一起.如果是片状、圆柱状样品可能会存在严

酒精不行,可以考虑一下其他挥发溶剂.lwqxhm(站内联系TA)你的样品要是负载型的可以试着加载体相做XRDandrewjtx(站内联系TA)XRD样品不够,把样品放在玻璃片上,均匀涂开,再在上面放一

一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术.常用闪烁计数器作探测器.入射光和探测器在一个平面内（称赤道平面）,晶体位于入射光与探测器的轴线的交点,探测器可在此平面内绕交点旋转,因此只有那些法线在此平面内的晶

可以从几个角度来分析1、abcd的峰没有位移,说明4种条件下物质没有变化,很稳定.2、信噪比都很好,说明噪声低,测量误差小,可信性度较高3、峰都很尖锐,说明物质结晶度好.并且不随条件而变化.4、经过p

郁闷

我的许多回答都和你的问题有关,可以去看看：一、谱图横坐标2θ,从而知道掠射角θ(入射角的余角,又称为布拉格角).然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸.二、谱图的谱

给你个建议,物相分析不是用一个峰就可以看出来的.如果要搞科研还是先买本现代材料研究方法的书看看.再问：做XRD看它的三强峰不是可以推断物质的晶型。我的物质主要成分不清楚，是看一些什么书？谢谢了呵呵再答

你只需要将草酸银的三强峰标出,和标准的XRD图谱对比可知,该样品的结晶度也很好,不存在晶面取向的问题.再问：谢谢你的回答，标准样品草酸银的三强峰具体在什么位置能补充一下吗，我对XRD不是很懂，多谢了再

粉末的话,量多衬底用玻璃,量少用硅片.溶液可以滴在硅片上制成薄膜测薄膜的XRD,最好多滴一点.（薄膜XRD和粉末XRD不是一台机子）查看原帖

观察厚度/cos(PI/6)=实际厚度,PI为圆周率.即观察厚度除以30度的余弦值,计算出来的便是实际厚度.

首先说一句,扫描速度和仪器有关,一般老仪器都比较慢（因为灵敏度低）粗扫随意,选个中间的数比如5度每分钟就行了精细测定的时候要慢,比如每步0.02度,停留1s之类的不同仪器设定不同,问实验室的人是最好的